UX-300熒光檢測儀報價選型手冊

Ux-300
 
能量色散X熒光光譜儀
Eenergy dispersive X-ray fluorescence spectrometer
 
 
用戶 選 型 報 價手 冊
中文版V1.0
 
 
 
 
 
 
 
 X熒光分析儀可以應用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的領域,例如建材(水泥、玻璃 、陶瓷)、冶金(鋼鐵、有色金屬)、石油(微量元素如S、Pb等)、化工、地質采礦、商品檢驗、質量檢驗甚至人體微量元素的檢驗等等。是常量分析和痕量分析的可靠工具,在大專院校和科研單位也是常備儀器。
 
 
   
1.產品規格
2.儀器硬件部分.
2.1 探測器
2.2 X光管
2.3 高壓電源
2.4 自適應濾光系統
2.5 微區分析系統
3.數據處理部分
4.儀器軟件部分
5.防輻射部分
6.六價鉻測試單元
7.歐盟標準樣品
8.儀器配件清單
9.部分客戶名單
10.保修及售后服務
11.增值服務
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
產 品 簡 介
UX-300能量色散X熒光光譜儀原理
當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的激發態,激發態原子壽命約為 10-12-10-14s,然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷,也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷到空穴時,所釋放的能量隨即在原子內部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子,此稱為俄歇效應,亦稱次級光電效應或無輻射效應,所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。它的能量是特征的,與入射輻射的能量無關。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不在原子內被吸收,而是以輻射形式放出,便產生X 射線熒光,其能量等于兩能級之間的能量差。因此,X射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。
    K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中任一電子所填充,從而可產生一系列的譜線,稱為K系譜線:由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,M層躍遷到K層輻射的X射線叫Kβ射線……。同樣,L層電子被逐出可以產生L系輻射。如果入射的X 射線使某元素的K層電子激發成光電子后L層電子躍遷到K層,此時就有能量ΔE釋放出來,且ΔE=EK-EL,這個能量是以X射線形式釋放,產生的就是Kα 射線,同樣還可以產生Kβ射線 ,L系射線等。莫斯萊(H.G.Moseley) 發現,熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關,其數學關系如下:
λ=K(Z-s)-2
  這就是莫斯萊定律,式中KS是常數,因此,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據此,可以進行元素定量分析。
UX-300能量色散X熒光光譜儀特點
1.無需制樣即可直接測量.
2. 所有元素可以同時測量,且短短幾分鐘即可完成分析,可以應付大批量待測樣品.
3. 檢出限低,完全可以滿足WEEEROHS指令要求.
4. 無損分析. 分析樣品不被破壞,分析快速,準確,便于自動化。 
5. 沒有人為誤差,誰操作都得到一樣的結果.
6. 操作簡單,可以單鍵完成操作.
7.分析的元素范圍廣,從NaU均可測定;
8.熒光X射線譜線簡單,相互干擾少,樣品不必分離,分析方法比較簡便;
9.分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達ppm量級,
10.連續測試重復性極強,測試數據穩定可靠
能量色散光譜分析儀與波長色散光譜分析儀的區別
能量色散分析儀只有一個探測器,它對測量X射線能量范圍是不受限制的,而且這個探測器能同時測量到所有能量的X射線。也就是說只要激發樣品的X射線的能量和強度能滿足激發所測樣品的條件,對一組分析的元素都能同時測量出來。一般有以下三種基本類型的探測器可用于測量X射線:密封式或流氣式充氣探測器、閃爍探測器、半導體探測器。
    能量色散的條件是當樣品被激發后產生的X射線通過窗口進入探測器探測器把X射線能量轉換成電荷脈沖,每個X射線光子在探測器中生成的電荷與該光子的能量成正比。該電荷被轉換成電壓脈沖,當這些電壓脈沖經充分放大后,被送入脈沖處理器,脈沖處理器把這些代表著各個元素的模擬信號再轉換成為數字信號,由計算機進行分類,分別存入多道分析器(MCA)的相應通道內,一般使用1024-2048道MCA。這些通道覆蓋了分析的整個能量范圍。
    波長色散分析儀是用多個衍射晶體分開待測樣品中各元素的波長,由此對元素進行測量。晶體被安裝在適當位置,以滿足布拉格定律的要求。X射線熒光分析和其它光譜分析一樣,也是一種相對分析。這就是說,要有一套參考標樣,這些參考標樣能夠在可能感興趣的范圍內覆蓋所測元素。首先對這些標樣進行測量,記錄欲分析元素的強度,建立濃度(含量)、強度(CPS)校準曲線,存入處理數據的計算機,供以后分析同一類型未知樣品時使用。*簡單的校準線是直線,強度與濃度的依賴關系反映儀器的靈敏度。
    另外由于校準線要在很長一段時間內使用,所以應對儀器的漂移作出調整,盡管這種漂移不大,但它確實存在。這可以通過對每個分析元素選用高、低兩個參考點來實現。制備若干被稱作SUS(調整樣)的特殊樣品,它們含有適量的分析元素,有很好的長期穩定性。利用它們可以求出高、低強度值。  
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
Ux-300X熒光光譜儀                
技術規格及報價表
 
  
產 品 規 
 
2.分析原理
能量色散X射線熒光分析法
 
3.分析元素
Na U任意元素, 鉛(Pb)、汞(Hg)、六價鉻(Cr6+)、多溴聯苯(PBB)和多溴聯苯醚(PBDE)中的溴,直接分析出六價鉻(Cr6+)含量
 
4.工作條件
工作溫度:10-30
相對濕度:≤70%
電源:AC 220 V±10 %、50/60 Hz
 
5.技術指標
檢出下限(Cd/Pd)Cd/Cr/Hg/Br2 ppm, Pb5 ppm
樣品形狀:任意大小,任意不規則形狀
樣品類型:塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
X射線管:靶材/Mo 管電壓/550 kV 管電流/*11000 μA
照射直徑:2、5、8mm
探測器:Si(PIN)半導體高靈敏度探測器
濾光片:八種新型濾光片自動選擇
樣品定位:微動載物平臺(選配)
樣品觀察:30倍彩色CCD攝像機
微區分析:X光聚焦微區分析系統(選配)軟件
定量分析:理論Alpha系數法(NBS-GSC)  
數據處理:IMB PC/AT/內存/256 MB 以上/硬盤/40 GB以上系統:Windows XP正版
功率:1.1kW
重量:40Kg
外形尺寸:550(W)×450(D)×450(H)mm
 
6.標準配置和隨機標準附件
標準配置:Si(PIN)半導體高靈敏度探測器(<155eV)
X光光管(壽命>15000小時)
高壓電源(RSD<0.25%
大樣品倉
高精密攝像機(130萬像素)
Alpha系數法(NBS-GSC)定量軟件
計算機(方正P4品牌機,17寸液晶顯示器)
打印機(愛普生彩色噴墨打印機)
測試用樣品杯2個,測試用塑料薄膜數張
 樣:歐盟標樣EC681一片、銀校正標樣一片。
 
 
7.提供必要的技術資料
1.    用戶手冊;使用說明書;(含操作規程和儀器故障處理),裝箱清單;保密條款。
 
8.技術服務要求
1.技術服務要求,六價鉻(Cr6+)的檢測方法
2.在買方現場對操作人員進行培訓,安裝、調試、驗收、培訓及技術服務均為免費。
3.設備驗收后,整機保修1年。提供*有效的技術服務,在接到用戶故障信息后,4小時內響應,48個小時內派人上門維修和排除故障。
4.終身維修,免費提供軟件升級等優惠的技術支持。
 
9.設備的驗收標準及驗收程序
1.    以說明書上的性能指針和技術協議為準。
2. 在買方的實驗室調試完畢、檢驗合格并進行試樣測試。
 
10.包裝及運輸
1.賣方按公司統一包裝形式對買方所購產品進行包裝;
2.托運公司將產品托運至買方指定地點,運輸費用及托運包裝費用由賣方承擔。
 
11.付款方式
1.合同簽訂后,買方須先向賣方繳付50%的預付款;
2.賣方收到預付款10天內,到買方指定地點安裝儀器;
3.儀器安裝完成驗收合格,買方付清儀器余款
 
12.交貨地點
買方指定地點。
 
13.交貨日期
2007         
 
 
二、儀 器 硬 件 部 分
1、 Si(PIN)半導體制冷探測器( 高靈敏度探測器)
   晶體面積大于15平方毫米
   分辨率優于 < 155eV ,   CPS >3000/S
   全數字脈沖處理器技術
 (注:檢測器是分析儀器的心臟,目前市面上大致有三種類型, Si(Li)檢測器液氮制冷型分辨率相當低,但是在分析是需要灌制氮氣,使操作者面臨低溫**威脅,操作極不方便;且氮氣不易購買,難保存,非常不方便。而Si(PIN)電制冷型在分辨率上與LN型相比僅稍遜一籌,但是并不影響RoHS行業的檢測要求,同時由于使半導體自動制冷,為操作者帶來的方便性不言而喻。而全數字脈沖型處理技術顯然比模擬脈沖技術在數據處理的速度上快,從而帶來分析也快。這里需要注意的是,我們很少看到廠商公布檢測器的面積,顯然大面積的檢測器得到的光訊號更多,也就更準更快速。相比某些廠商僅公布檢測器分辨率卻含糊面積指數是一種有貓膩的做法,往往以次充好)

2、低功率小型X光管為激發源(壽命≥15000小時)
X光管具有更小的功耗和更高的工作電壓,電子槍封裝于鉛內襯不銹鋼管中,這種設計可對2英寸的0.25mR/hr 的射線進行屏蔽,管中裝有冷卻油,散熱效果較好??梢杂酶邏喊际竭B接器或無空氣連接器和一個三軸連接器來提供燈絲。這種射線管在燈絲接地、陽極加正加的模式下工作,標準窗口是0.005英寸鈹窗,額定功耗為50瓦、額定電壓為50千伏
 
3、美國原裝進口高壓電源
 
 
穩定性:連續8小時測定 RSD < 0.25%
 (注:通常EDXRF會長期開機待機,此穩定性能相當不錯)
應用于RoHS 指令的分析特點
   快速分析,僅需要60---200秒鐘完成測定
 (注:分析速度不比某些廠商宣傳時3分鐘而實際在操作培訓時廠商工程師會建議10-15分鐘那樣長,也就是銷售和技術在某些廠商來講完全兩碼事,對于用戶來講,快速分析得到較準確的數據也就意味著流程更快,節約時間)
   痕量檢測,塑料中檢出線:
 原子序數            素 (ppm       原子序數            素 (ppm
     22             Ti 3.0                     47             Ag 1.2
      23             V 2.0                     48             Cd 1.5
      24             Cr 2.0                     50             Sn 2.0                
      25             Mn 1.5                    51             Sb 4.0                                
      26             Fe 1.0                     80             Hg 3.0                       
      27             Co 0.9                     82             Pb 3.0
      28             Ni 0.8                     33             As 0.9                    
      29             Cu 0.7                     34             Se 1.0                     
      30             Zn 0.7                     35             Br 1.0
 
 
 
 
 
4、八種新型復合濾光片自動選擇
    自動濾除與目標峰無關X射線,降低背景對被分析元素的干擾,從而使分析結果更客觀、準確。
 
 
5、微區分析系統 (選配)
        用特殊的聚焦技術將X射線聚焦至Φ33μm,提高X射線激發到樣品的強度,更重要的是便于對更細微的區域進行**分析,光路系統采用正置式,可在大氣壓力或低真空環境下對微區及整體成份的定性定量分析,以及線、面元素的分布分析,檢測極限為ppm.
 
  
 
 
三、計算機(數據處理):
        2.1 品 牌:(方正P4品牌機,17寸液晶顯示器)                   
2.2 主 機: IBM/AT
2.3 內 存: DDR256M以上
2.4 操作系統OS: WINDOW XP正版
2.5 硬 盤:   80G以上
四、軟件部分
理論Alpha系數法原理的簡單介紹:
如果不考慮任何的吸收增強效應,那么各元素或氧化物的相對熒光強度(即熒光強度與含量為100%時的熒光強度比值),就應該等于該元素或氧化物的百分含量,這是容易理解的,顯而易見的一個推論是該元素的熒光強度與該元素或氧化物的濃度(含量)成正比。
但事實上,使這種正比關系并不總是成立,原因在于在熒光分析中必然存在的基體效應和吸收增強效應。簡單地可以這樣理解,原級射線進入樣品要被衰減,衰減的幅度與基體成分有關,假定兩個二元樣品含有同樣濃度的Fe,一個樣品**成分為鉛Pb,另一個樣品**成分為碳C,因為Pb的質量系數系數比C大的多,進入到樣品中能激發Fe的射線的量當然有很大不同,另外Fe被激發后產生的熒光X射線在傳出樣品的過程中也要受到衰減,同樣與基體成分有關。這使得同樣含量的Fe的相對熒光強度產生很大的不同,這就是熒光分析中所謂的基體效應。 
另一方面的效應是二(三)次熒光效應,假設有一個二元樣品,含有Fe和硅Si。其中Fe元素受原級X射線激發產生熒光特征熒光X射線,Ka線能量為6.4keV, Kb線能量為7.06keV,高于Si元素的K線的激發限1.84keV,因此Fe的熒光射線將有一部分被Si吸收并激發Si的熒光射線,稱為二次熒光。這樣Si的熒光強度就會由于二次熒光而增加,也稱為基體增強效應。當然二次熒光還可激發其他更低原子序數的元素,形成三次熒光,不過一般比例很小。
理論Alpha系數法對基體吸收和增強效應進行了理論計算,以Alpha系數的形勢表達元素之間的吸收增強效應。因為計算中要對原級射線進行積分,所以計算是要提供X射線管的靶材、Be窗厚度、出射角和管電壓以及積分限,這些都對原級射線的譜密度分布有影響。另外基體吸收系數的擬合公式可以選用Heinrich公式或Leroux公式。原級射線入射樣品的角度會影響到入射線的積分路徑,熒光取出角會影響到出射線的積分路徑,因此都要作為基本參數提供。
理論上,有了理論Alpha系數,只能計算相對熒光強度,如果再能得到各元素(或氧化物)100%濃度下的熒光強度,即純元素熒光強度,就可以進行定量測量了。但是一般地,基于一些限制,很難得到各種純元素的熒光強度。通常使用多元素標樣經過計算得到純元素熒光強度。
 

*后一次測試結果放大顯示
 
測試結果顯示區
工作區列表

五、X射線防護措施
1、            全封閉鉛板防護
2、            雙層迷宮防輻設計
3、            X射線警示燈警示標
4、            延時測試報警裝置
5、            艙門開啟X射線強制中斷裝置
6、            測試結束, X射線自動屏蔽裝置
7、            進口X射線劑量儀檢測
8、            X線管窗濾過片
9、 過載保護與聯鎖裝置
六、鉻測試杯及測試液(不需購買其他任何儀器)
 運用本公司開發的專用軟件和獨特的硬件技術,無須添加任何其他儀器,即
可對六價鉻進行**分析,大大節約了檢測成本。
 七、歐盟標準樣品
 樣:歐盟標樣EC681一片、銀校正標樣一片。
標樣證書如下:
八、標準配置和隨機標準附件:
標準配置:Si(PIN)半導體高靈敏度探測器(<155eV)
X光光管(壽命>15000小時)
高壓電源(RSD<0.25%
大樣品倉
高精密攝像機(130萬像素)
Alpha系數法(NBS-GSC)定量軟件
計算機(方正P4品牌機,17寸液晶顯示器)
打印機(愛普生彩色噴墨打印機)
測試用樣品杯2個,測試用塑料薄膜數張
 樣:歐盟標樣EC681一片、銀校正標樣一片。
九、部分已使用UX300客戶名單
 
1
AOV安姆特測試機構
2
杭州計量院
3
天津三星電機有限公司(20臺)
4
萬嘉源通訊設備(深圳)有限公司
5
鑫茂科技(深圳)有限公司(4臺)
6
晶輝科技(深圳)有限公司
7
聯輝電機(惠陽)有限公司
8
方正科技股份有限公司
9
榮豐電器(深圳)有限公司
10
東莞祥耀塑膠制品有限公司
11
四川綿陽虹潤電子有限公司
12
鉅訊通電子(深圳)有限公司
13
深圳東維豐電子有限公司
14
深圳偉健塑膠有限公司
15
廣州從化精密扳金有限公司
16
隆光音箱(香港)有限公司
17
惠州市騰暉電器有限公司
18
美科電器(揭西)有限公司
19
精能實業(深圳)有限公司
20
科洋數碼商用機器(深圳)有限公司
 
客戶眾多,未能盡錄,排名不分先后
十、產品保修說明 
 1、凡從本公司公司購買的設備未經拆動確屬新產品制造**造成故障或損壞,均由我公司負責免費修理或提供更換損壞的零配件。
2、凡從本公司公司購買的設備自購買安裝之日起(以保修證日期為準),在按照使用說明書、張貼在設備上的標簽等注意事項正確使用,在保修期內無人為因素故障,保修一年。
3、對于產品外觀及數量有異議,應在收到貨后5個工作日內電告本公司,否則供貨方視無誤處理。
4、以下情況不屬于免費保修范圍,將按收費標準收取維修和零件費或提供免費郵購零配件的便利:
a、非我公司生產的設備,但經雙方協商可以由我公司維修的;
b、安裝使用過程中未按說明書規定的電源、聯接方式或系統線路短路、接地**產生的靜電感應、雷擊、電擊、電壓異常、沒有按規定的電源(電壓、頻率)等非質量因素造成損壞的;
c、購買后在安裝場所跌落、搬運等過程中引起的故障及損壞;
d、因自然災害、戰爭等不可抗拒的因素引起的故障及損壞;
e、因使用錯誤、擅自拆修、改造而引起的故障及損壞;
5、返修設備修復后,自修復之日起30日內,如在正常使用中仍有原故障問題,將免費修理,其他故障按規定收費。
6、包修期內,郵寄、運輸、委托出差所修復設備相關交通費用,由我公司負責。包修期后,由用戶負責。
7、系統一般故障,接甲方通知后,24小時內出發,趕現場解決問題或提出解決方案。
8、保修期后終身負責成本價有償維護,保修范圍包括所有本公司售出設備。
十一、增值服務
1、            軟件終身免費升級
2、            免費培訓3-5個操作人員,并頒發上崗證
3、            終身免費贈送測試薄膜
4、            RoHS相關問題免費咨詢
5、            終身免費測試疑難樣品
 
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